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覆层测厚仪

简要描述:

TT230主要技术指标
测量范围:0~1250μm

型号:TT230

浏览量:977

更新时间:2016-07-31

价格:14

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覆层测厚仪

  

TT230主要技术指标
  测量范围:0~1250μm
TT230详细技术指标
 
详细介绍  
TT230采用了涡流测厚法它是一种超小型的测量仪,它能快速、无损伤、精密地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。可广泛用于制造业、金属加工业、商检测领域。由于该仪器体积小,测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量。
具有五个统计量
可存贮15个测量值
功能描述  
测量范围 0~1250μm
测量原理 涡流法
测量精度 ±(3%H+1.5)μm(零点校准)/±[(1-3)%H+1.5]μm(二点校准)
其它  
  1、可进行零点校准及二点校准
2、可对测头进行基本校准
3、具有五个统计量:平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、测试数(NO)、标准偏差(S.DEV)、可存贮和统计计算15个测量值
4、具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)
5、具有自动关机功能
6、删除功能:对测量中的出现的单次可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据,以便进行新的测量
7、操作过程有蜂鸣声提示
8、有欠压指示功能
9、有错误提示功能

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